ICCircuits

シリコンテストエンジニアリング

IC Test

CALIBERは、デジタル、アナログ、センサー、混ぜた信号及びRFデバイス用の複数ATEプラットフォームに完全なターンキーテスト及びテストコンサルティングサービスを含む低くコストで最適化されたATEテストエンジニアリングサービスを高収量の為に提供しております。

テストソリューション開発及びデバッグ活躍を管理する事により、プロトタイプから製造テストまでお客様を支持しております。

  • 完全なターンキー開発及びテスティング
  • 異なるATEプラットフォーム間テストプログラム変換
  • テストエンジニアリングサービス及びテストプログラム開発
  • "SAT工場"で大量生産テストの実施
  • テストエンジニアリングのサポートとトレーニング
  • テストハードウェア開発
Smart Form

ツール及びテストプラットフォームの専門知識

  • アドバンテスト(ヴェリジー)93K
  • アドバンテストT2K
  • テラダイン J750
  • テラダインフレックス
  • テラダインイーグル

Smart Form

主要テストプラットフォームでATE テストサービスの広い

支持を提供しております。下記の通りです。

  • 実現可能性検討
  • ロード基板とプローブカードの設計
  • ハードウェア開発と検証
  • デジタル/混合信号/ RFテストプログラム開発(パッケージテスト&ウェハーソート)
  • テストパターン変換へのシミュレーション
  • シリコンデバッグ
  • テスターリモートアクセスサポート
  • デバイス特性
  • マルチサイト - パラレルデバイステスティング
  • 収量宣揚
  • テスト時間の最適化
  • スループット改善