Boundary Scan, Functional Test, Test automation

テストエンジニアリング・サービス

Boundary Scan, Functional Test, Test automation

テストカバレッジの向上とテスト時間の短縮は、最高の生産効率を実現するために重要です。 出荷後の製造上の欠陥の露見は顧客満足度に影響を及ぼし、テストおよび修理の全体的なコストを増加させるため、FABおよびアセンブリハウスは適切な製造テスト戦略を採用することが重要です。 また、FABやアセンブリハウスと協力して、適切なテストプロセス、スクリプト、テストプログラムを提供する必要があります。

弊社のテストエンジニアリング・グループは、製造工場や組立工場と密接に協力して高品質のPCBとパッケージを生産するための製造テスト戦略を良く理解しています。 弊社のテストエンジニアリングサービスは、より良いテストカバレッジとテスト時間を低コストで実現するために作りだされています。 バウンダリ・スキャンテスト、機能テストとテストプロセス、及び機器の自動化を含む統合テストエンジニアリング・ソリューションを提供しています。




Boundary scan

バウンダリ・スキャン

  • 実装基板テストのためのテストプログラム。
  • Flash及びPLD(CPLDS、FPGA、等)のインシステム・プログラミング・サポート
  • DFT(テストのし易さ)解析。
Functional Test

機能テスト

カスタムテスト・ハードウェア開発

  • 特別に設計されたハードウェア。
  • テストソフトウェアは、テスター・ハードウェア上で動作する。
  • テスタは、入力信号を生成し、出力信号をモニタするようにプログラムされている。
  • 複数のPCBが並列にテストされる。
  • テスタハードウェアは、さまざまなタイプのPCBをサポートするように(ソフトウェアを介して)構成可能です。
  • テスト・スクリプトとログキャプチャ。
  • テスト時間の削減、スループットの増大。

機能テストソフトウェア開発(インシステム):

  • シングル・ボタンテストの自動化。
  • MPU/MCUを伴ったPCBAに最適。
  • テストソフトウェアは、オンボードMPU/MCU上で動作する。
  • テストソフトウェアはアプリケーションソフトウェアと似ています。
  • MPU/MCU又はオンボードFPGAからのテスト・トラフィック・データの生成。
  • 外部コネクタはループバックされる、又は低コストのテストハードウェアに接続される。
  • 内臓ユーザー・インターフェイス。
  • 手動テスト用のデバイスレベル・メニュー。
  • テスト・スクリプト及びログキャプチャ。

機能テストソフトウェア開発(外部):

  • シングル・ボタンテストの自動化。
  • MPU/MCU有り無しに関わらずPCBAに最適。
  • テストソフトウェアは、低コストのテストハードウェア・ボード上で実行され、PCBAに接続されます。
  • 内臓ユーザー・インターフェイス。
  • 手動テスト用のデバイスレベル・メニュー。
  • テスト・スクリプトとログキャプチャ。

デバイス・レベル・テスト・ソフトウエア開発(デバック、修復)

  • PCBAのデバッグと修復に最適。
  • 個々のデバイス・レベルで障害を特定。
  • Read/Write/Loop Read/Loop Writeのデバイス・オプション。
  • デバッグ用のデバイス機能メニュー。
  • 内臓ユーザー・インターフェイス。
Test Automation

テストの自動化

LabVIEWベースのテスト自動化

  • 完全な製品テストフローの自動化。
  • 最小のオペレータの介入によるテスト時間の短縮。
  • オペレータ・フレンドリーなGUI。
  • 自動試験装置制御。
  • リアルタイムパラメータの監視。
  • テスト結果は、テストデータ・ベースに統合される。
  • テスト統計の統合化。
  • テストデータの図表化。